ZYGO光學(xué)輪廓儀：多原理助力精準(zhǔn)測量

產(chǎn)品簡介

ZYGO光學(xué)輪廓儀：多原理助力精準(zhǔn)測量
光學(xué)輪廓儀依托多種成熟的光學(xué)測量技術(shù)，為不同特性樣品的檢測提供支持。

產(chǎn)品型號：ZYGO Nexview NX2

更新時間：2026-01-23

廠商性質(zhì)：代理商

訪問量：233

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產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

三維光學(xué)輪廓儀

BRUKER白光干涉光學(xué)輪廓儀 SENSOFAR共聚焦白光干涉儀儀光新型共聚焦白光干涉儀 SENSOFAR 3D光學(xué)輪廓儀 SENSOFAR結(jié)構(gòu)光三維輪廓儀 SENSOFAR平面度測量干涉儀 ZYGO三維光學(xué)輪廓儀

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ZYGO光學(xué)輪廓儀：多原理助力精準(zhǔn)測量

Nexview™ NX2 光學(xué)輪廓儀依托多種成熟的光學(xué)測量技術(shù)，為不同特性樣品的檢測提供支持。其中，白光干涉技術(shù)是核心技術(shù)之一，該技術(shù)通過將白光光源分為參考光與測量光，兩束光分別經(jīng)參考鏡與樣品表面反射后重新匯合，產(chǎn)生干涉條紋，系統(tǒng)通過垂直掃描采集不同位置的干涉信號，再經(jīng)算法處理重建樣品的三維形貌，縱向分辨率可達 0.05nm，適用于超光滑表面如光學(xué)鏡片、半導(dǎo)體晶圓的測量。

共聚焦技術(shù)則針對粗糙表面樣品設(shè)計，當(dāng)光線通過針孔光源照射到樣品表面時，只有聚焦在樣品焦平面上的光線能通過接收針孔被傳感器捕捉，非焦平面光線被過濾，從而清晰呈現(xiàn)樣品表面的微觀紋理，搭配軟件中的 “紋理分析" 功能，可快速獲取表面粗糙度、紋理方向等參數(shù)，適用于模具、機械零件等粗糙表面的檢測。動態(tài)測量技術(shù)通過實時監(jiān)測樣品的微小振動，自動調(diào)整測量參數(shù)補償振動影響，即使在生產(chǎn)車間等存在輕微振動的環(huán)境中，也能保證測量數(shù)據(jù)的穩(wěn)定性，滿足在線檢測需求。

核心光學(xué)部件的選材與工藝同樣注重性能保障，光學(xué)鏡頭采用低色散光學(xué)玻璃，經(jīng)過多道研磨與拋光工藝處理，減少光線在傳播過程中的色散與畸變；鏡頭表面鍍有多層增透膜，透光率提升至 95% 以上，降低光線反射損失，確保成像質(zhì)量。圖像傳感器選用高靈敏度 CMOS 芯片，像素尺寸達 3.45μm，在 150 幀 / 秒的高速采集速度下，仍能保持 0.1μm 的橫向分辨率，可清晰捕捉樣品表面的微小缺陷如劃痕、凹陷等。此外，設(shè)備還搭載了環(huán)境自適應(yīng)系統(tǒng)，實時監(jiān)測溫度、濕度與氣壓變化，當(dāng)環(huán)境參數(shù)發(fā)生波動時，自動調(diào)整光學(xué)系統(tǒng)參數(shù)，確保測量結(jié)果不受環(huán)境影響，在溫度波動 ±1℃、濕度 30%-70% 的環(huán)境中仍能穩(wěn)定工作。

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